A nova técnica de nanotecnologia desenvolvida pelos cientistas Alessandro Tuniz e Boris Kuhlmey, da Universidade de Sydney, na Austrália, permite superar o limite de difração de luz usando uma abordagem inovadora. Em vez de tentar se aproximar do objeto para captar imagens com alta resolução, os cientistas colocam a sonda de luz a uma distância mais longa e coletam informações de alta e baixa resolução. Essa técnica elimina completamente as superlentes, que são responsáveis por perdas visuais extremas. A nova abordagem usa a amplificação seletiva das ondas evanescentes para criar imagens com uma resolução quatro vezes maior do que o limite de difração. Essa técnica pode ser aplicada em diversas áreas, como diagnóstico de câncer, imagiologia médica e arqueologia, e pode revelar camadas ocultas em obras de arte, ajudando a detectar falsificações ou obras escondidas. ... Ver notícia completa...